上海恒平紫外可見分光光度計UV2900
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UV2900采用雙光束反饋記錄測光系統(tǒng)，由PC機控制的全自動掃描型高性能紫外可見分光光度計。
全新的光學(xué)系統(tǒng)和電路設(shè)計及光譜帶寬0.1-5.0nm連續(xù)可調(diào)及設(shè)定，確保儀器具有高分辨率、低雜散光、持久穩(wěn)定性和高信噪比
并有強大的軟件功能，能滿足眾多高層次分析工作者的需求，如生物制藥、環(huán)境、科研等檢測系統(tǒng)。
儀器特點：
持久的穩(wěn)定性：雙光束動態(tài)反饋比例記錄測光系統(tǒng)及電路保證了基線穩(wěn)定性，確保儀器長時間的穩(wěn)定。
超低的雜散光：極其優(yōu)良的光學(xué)系統(tǒng)、先進的電子系統(tǒng)保證儀器雜散光≤0.015%T使高濃度樣品測試數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。
自動8檔光譜帶寬（0.1、0.2、0.5、1.0、2.0、3.0、4.0、5.0nm）連續(xù)可調(diào)，以滿足各種樣品測試需要，也可自定義光譜帶寬數(shù)。
燈源更換簡單方便：采用進口插座式法蘭盤型氘燈和鎢燈，換燈時無需光路調(diào)試，維護更加簡便。
全PC機操作：配備UV-Solution3.0工作站軟件，操作方便，測試功能豐富。
三維圖譜的測量：對具有“動態(tài)變化”的樣品掃描圖譜進行三維圖譜的制作及分析。
技術(shù)指標(biāo)：
型 號 | UV2900 |
光學(xué)系統(tǒng) | 雙光束 |
光譜帶寬 | 0.1-5.0nm連續(xù)可調(diào) |
波長范圍 | 190～900nm |
波長最大允許誤差 | ±0.3nm |
波長重復(fù)性 | ≤0.1nm |
光度范圍 | A: -4.0～4.0 Abs |
透射比最大允許誤差 | ±0.3%T |
透射比重復(fù)性 | ≤0.1%T |
雜散光 | ≤0.015%T（220nmNal; 360nmNaNO2） |
穩(wěn)定性/噪聲 | ±0.0004 Abs |
基線平直度 | ±0.001 Abs |
漂移 | ≤±0.0004 Abs/h (500nm處，預(yù)熱2h后) |
外形尺寸 | 600×505×240mm |
