彼愛姆9J光切法顯微鏡（普通型）
- 會員價 請登陸后查看
- 市場價 請詢價
- 運費說明 全國包郵
登錄后有專屬客服為您服務
固話：021-80122208
傳真：021-63450333
Q Q：800072208
商品詳情
用途
9J光切法顯微鏡是以光切法測量零件加工表面的微觀不平度。適用于測量1.0～80微米即原標準▽3-▽9級表面光潔度。
對于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進行測量。
光切法特點是在不破壞表面的狀況下進行的。
是一種間接測量方法。即要經(jīng)過計算后才能確定紋痕的不平度。
技術參數(shù)
1、攝影裝置放大倍數(shù)：約6X
2、測量不平度范圍 ：0.001～0.08mm
3、不平寬度： 用測微目鏡： 0.0007～2.5mm；用坐標工作臺：0.01～13mm
4、儀器重量： 約23kg
5、外形尺寸： 約180×290×470mm
| 測量范圍不平度平均高度值 （um） | 表面光潔度級別 | 所需物鏡 | 總放大倍數(shù) | 物鏡組件 工作距離 （mm） | 視場 （mm） |
＞1.0～1.6 ＞1.6～6.3 ＞6.3～20 ＞20～80 | 9 8～7 6～5 4～3 | 60timesN.A.0.55 30timesN.A.0.40 14timesN.A.0.20 7timesN.A.0.12 | 510times 260 times 120 times 60 times | 0.04 0.2 2.5 9.5 | 0.3 0.6 1.3 |
