上海物光顆粒圖像分析儀WKL-702（配置1國(guó)產(chǎn)顯微鏡）
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- 市場(chǎng)價(jià) ￥55000.00
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產(chǎn)品說(shuō)明
適用于磨料、涂料、非金屬礦、化學(xué)試劑、粉塵、填料等各種粉末顆粒的粒度測(cè)量、形貌觀察和分析。
產(chǎn)品特征
軟件功能及報(bào)告輸出格式
1、可以對(duì)圖像進(jìn)行多項(xiàng)處理:如:影像增強(qiáng)、圖像疊加、局部提取、定向放大、對(duì)比度、亮度調(diào)節(jié)等幾十種功能。
2、具有圓度、曲線、周長(zhǎng)、面積、直徑等幾十種幾何參數(shù)的基本測(cè)量。
3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數(shù)，以線性或非線性統(tǒng)計(jì)方式繪出分布圖
4、WKL-702顆粒圖像分析儀將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合，是一種采用圖像法進(jìn)行顆粒形貌分析和粒度測(cè)量的顆粒分析系統(tǒng)，由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機(jī)和顆粒圖像處理分析軟件組成。
5、該系統(tǒng)通過(guò)專用的數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將顯微鏡的顆粒圖像拍攝下來(lái)傳輸給電腦，通過(guò)專用的顆粒圖像處理分析軟件對(duì)圖像進(jìn)行處理分析，具有直觀、形象、準(zhǔn)確和測(cè)試范圍寬等特點(diǎn)?？梢杂^察顆粒形貌，也可得到粒度分布等分析結(jié)果。
技術(shù)參數(shù)
儀器型號(hào) | WKL-702 |
測(cè)量范圍 | 0.1～3000（微米） |
總放大倍數(shù) | 8000倍 |
最大分辨率 | 0.1微米/像素 |
重復(fù)性 | 誤差≤±1％ |
自動(dòng)分割速度 | ≤1秒 |
數(shù)字?jǐn)z像機(jī)(CCD) | 500萬(wàn)像素 |
數(shù)據(jù)儲(chǔ)存 | 電腦另配 |
通信接口 | USB |
操作系統(tǒng) | Windows 98/XP/7/8/10系統(tǒng)均可 |
電源 | AC220V ±10％ 200W |
儀器尺寸 | 270mmX410mmX440mm |
儀器凈重 | 15kg |
